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-ÌýMécanismes élémentaires de déformation plastique, de transformation de phase et de rupture aux petites échellesÌý
-ÌýCaractérisation par microscopie électronique en transmission (MET) quantitativeÌýex-situÌýetÌýin-situÌýdes défauts dans les matériaux cristallins et amorphesÌý
-ÌýTests mécaniques miniaturisésÌý
-ÌýEffets de taille intrinsèques et extrinsèques sur les propriétés mécaniquesÌýÌý
Savoir-faire
-ÌýTests nanomécaniquesÌýin-situÌýen MET, MET corrigée à haute résolution, faisceau convergent, faisceau faible, précession électronique, cartographie d’orientation et de champs de déformation en MET, tomographie électronique, MET analytique
Ìý-ÌýMicroscopes: FEI Titan QU-Ant-EM, FEI Titan X-Ant-EM, FEI Tecnai G2, FEI Osiris, Jeol 3000 F et 2010 F, Philips CM20 and CM30, FIB/SEM FEI Helios Nanolab Ìý Ìý
-ÌýTraitement et simulation des données MET (JEMS, GPA, electron diffraction, Digital Micrograph, CrystalKit, etc)
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